SICK推出了新型W4F微型光电传感器，专为在狭小的安装空间内完成具有挑战性的物体检测任务而设计。SICK光电传感器现已提供微型尺寸。凭借公司新的专用集成电路(ASIC)技术平台，W4F传感器允许在各种具有挑战性的安装情况下实现多功能应用。
工业4.0智能传感器
W4F产品系列采用的技术包括两线制、V光、前景抑制和多路切换。这些技术旨在提高平面、透明和高反射物体的背景抑制和检测性能。
一台设备中的两个开关点和距离值输出允许扩展应用的可能性。这些智能传感器与BluePilot操作员界面和高可见光点集成。凭借最新的诊断和监控功能，它们专为未来在工业4.0设施中使用而设计。
实施BluePilot和ASIC平台
SICK的新型微型光电传感器实现了Blue Pilot操作理念。蓝色LED显示屏作为对齐辅助工具，为用户提供直接反馈，以加快流程并提高操作安全性。
在检测污染或振动时，Blue Pilot还可以帮助及早纠正故障并防止系统意外停机。该平台可以通过提供检查质量下降的视觉指示来做到这一点。传感器可通过推转机构和电位器进行调节，
新ASIC平台的开发允许漫射LED和两个光密集型精确发射器LED同时运行，而不会出现与温度相关的故障。该平台还直接将反射光的光电流数字化，有助于提高反射不良物体表面的灵敏度、感应范围和检测可靠性。此外，ASIC的数字滤波器提供了市场上“最好”的环境光抑制功能之一。
两个业务领域的传感器解决方案
SICK表示，W4F包括光学专家的光学标准和传感器业务领域。与之前的产品系列相比，它增加了高达47%的工作距离，并将物体与背景之间的黑/白偏移减少了38%。
凭借类似激光的光斑和V形光学元件，W4F可以检测平面、透明或反射物体，例如玻璃板、晶片或显示器。
两个线性线点（双线）可以检测带有凹槽、孔或钻孔的不平整表面，包括带有切口的印刷电路板。
多开关功能有助于区分躺着和站立的物体。使用通过IO-Link输出的距离值，带有两个开关点的W4F可用于监控装配过程、薄膜直径、包装材料、标签卷，并检查食品包装应用的高低填充水平。
前景抑制技术允许传感器检测高反射平面物体，例如饼干、巧克力棒或组件。
IO-Link用户访问
IO-Link访问可以帮助实时监控和检测，包括“当前接收器电平”读数。传感器监控和诊断功能以及IO-Link的智能特性使W4F能够用于数字机器和应用。
诊断功能旨在监控传感器状态。当温度或污染水平超过预设限值时，传感器可以自动开始维护并使用诊断数据来确定故障原因。
